Información sobre el producto "OTE-KS-NV-064-MUX"
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
- 2x 64 contactos, para conectar hasta 64 nanoVTEP sondas de prueba
| Altura: | 17,4 mm |
|---|---|
| Ancho: | 25,8 mm |
| Cantidad de polos: | 2x 64 |
| Conforme RoHS: | Sí |
| Dimensiones exteriores (AnxPxAl): | 230 x 25,8 x 17,4 mm |
| Grupo de productos: | Opens Test |
| Juegos de recambio (WS): | WS Keysight |
| Longitud: | 230 mm |
| Mesas de prueba de vacío (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Modelo: | nanoVTEP Acondicionador de señal B. |
| Montaje: | Rosca M2.5 |
| Serie: | OTE |
| Temperatura máx.: | 60 °C |
| Temperatura mín.: | 10 °C |
| Tipo: | Prueba sin vectores Keysight |
| Tipo de accesorios: | Accesorios customizados |
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- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
- 2x 64 contactos, para conectar hasta 64 nanoVTEP sondas de prueba
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- Grupo de productos: Opens Test
- Serie: OTE
- Tipo: Prueba sin vectores Keysight
- Modelo: nanoVTEP Acondicionador de señal B.
- Tipo de accesorios: Accesorios customizados
- Ancho: 25,8 mm
- Altura: 17,4 mm
- Temperatura mín.: 10 °C
- Temperatura máx.: 60 °C
- Conforme RoHS: Sí
- Mesas de prueba de vacío (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Juegos de recambio (WS): WS Keysight
- Montaje: Rosca M2.5
- Cantidad de polos: 2x 64
- Longitud: 230 mm
- Dimensiones exteriores (AnxPxAl): 230 x 25,8 x 17,4 mm